Test Path Selection for Capturing Delay Failures Under Statistical Timing Model
Test Path Selection for Capturing Delay Failures Under Statistical Timing Model
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统计时序模型下捕获延迟故障的测试路径选择
DOI：
10.1109/tvlsi.2012.2208661
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发表时间：
2013-07
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Li, Xiaowei
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
He, Zijian;Lv, Tao;Li, Huawei;Li, Xiaowei
提出了一种测试路径选择方法，用于捕获由累积分布的小延迟变化引起的延迟故障。首先，生成包含可测试长路径的通用路径候选集U。第二，给定一个路径数阈值，从U路径选择的目标是最大限度地捕捉潜在的延迟故障的能力。将路径选择问题转化为最小空间相交问题，提出了一种贪婪路径选择算法，其关键是计算指定路径集合中所有路径满足时延约束的概率。在计算中采用了统计时序分析技术和逻辑分析法。实验结果表明，该方法是时间有效的，并实现了更高的概率捕获延迟故障比传统的路径选择方法。
This paper proposes a test path selection approach for capturing delay failures caused by the accumulated distributed small delay variations. First, a universal path candidate set U, which contains testable long paths, is generated. Second, given a path number threshold, path selection from U is performed with the objective of maximizing the capability to capture potential delay failures. The path selection problem is converted to a minimal space intersection problem, and a greedy path selection heuristics is proposed, the key point of which is to calculate the probability that all the paths in a specified path set meet the delay constraint. Statistical timing analysis technologies and heuristics are used in the calculation. Experimental results show that the proposed approach is time efficient and achieves higher probability of capturing delay failures than traditional path selection approaches.
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DOI：
10.1109/vts.2010.5469628
发表时间：
2010-04
期刊：
2010 28th VLSI Test Symposium (VTS)
影响因子：
--
作者：
Zijian He;Tao Lv;Huawei Li;Xiaowei Li
通讯作者：
Zijian He;Tao Lv;Huawei Li;Xiaowei Li
DOI：
10.1109/vdat.2005.1500006
发表时间：
2005-04
期刊：
2005 IEEE VLSI-TSA International Symposium on VLSI Design, Automation and Test, 2005. (VLSI-TSA-DAT).
影响因子：
--
作者：
Kai Yang;Li-C. Wang;K. Cheng;S. Kundu
通讯作者：
Kai Yang;Li-C. Wang;K. Cheng;S. Kundu
DOI：
10.1109/dac.2000.855293
发表时间：
2000-06
期刊：
Proceedings 37th Design Automation Conference
影响因子：
--
作者：
K. Cheng;S. Dey;M. Rodgers;K. Roy
通讯作者：
K. Cheng;S. Dey;M. Rodgers;K. Roy
DOI：
10.1109/tcad.1987.1270315
发表时间：
1987-09
影响因子：
2.9
作者：
Chin-Jen Lin;S. Reddy
通讯作者：
Chin-Jen Lin;S. Reddy
DOI：
10.1109/icvd.2000.812575
发表时间：
2000-01
期刊：
VLSI Design 2000. Wireless and Digital Imaging in the Millennium. Proceedings of 13th International Conference on VLSI Design
影响因子：
--
作者：
M. Breuer;S. Gupta
通讯作者：
M. Breuer;S. Gupta