Low-Power Scan-Based Built-In Self-Test Based on Weighted Pseudorandom Test Pattern Generation and Reseeding
Low-Power Scan-Based Built-In Self-Test Based on Weighted Pseudorandom Test Pattern Generation and Reseeding
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基于低功耗扫描的内置自测试（基于加权伪随机测试模式生成和重新播种）
DOI：
10.1109/tvlsi.2016.2606248
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发表时间：
2017-03
影响因子：
2.8
通讯作者：
Laung-Terng Wang
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Dong Xiang;Xiaoqing Wen;Laung-Terng Wang
基于加权的伪和播种，提出了一种新的低功率（LP）扫描内置自我测试（BIST）技术。提出了一种新的LP扫描体系结构，该体系结构支持伪随机测试和确定性的乞bist。
A new low-power (LP) scan-based built-in self-test (BIST) technique is proposed based on weighted pseudorandom test pattern generation and reseeding. A new LP scan architecture is proposed, which supports both pseudorandom testing and deterministic BIST.
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DOI：
10.1109/tcad.2009.2018775
发表时间：
2009-07
影响因子：
2.9
作者：
D. Xiang;D. Hu;Qiang Xu;A. Orailoglu
通讯作者：
D. Xiang;D. Hu;Qiang Xu;A. Orailoglu
影响因子：
3.7
作者：
D. Xiang;Mingjing Chen;H. Fujiwara
通讯作者：
D. Xiang;Mingjing Chen;H. Fujiwara
DOI：
10.1109/ats.2012.27
发表时间：
2012-11
期刊：
2012 IEEE 21st Asian Test Symposium
影响因子：
--
作者：
Yasuo Sato;Senling Wang;Takaaki Kato;K. Miyase;S. Kajihara
通讯作者：
Yasuo Sato;Senling Wang;Takaaki Kato;K. Miyase;S. Kajihara
扫描触发器分组以压缩测试数据并压缩测试响应以进行捕获时启动延迟测试
DOI：
10.1145/2159542.2159550
发表时间：
2012-04
影响因子：
1.4
作者：
Xiang, Dong;Chen, Zhen;Wang, Laung-Terng
通讯作者：
Wang, Laung-Terng
DOI：
10.1109/tcad.2006.870861
发表时间：
2006-11
影响因子：
2.9
作者：
Nan-Cheng Lai;Sying-Jyan Wang;Yu-Hsuan Fu
通讯作者：
Nan-Cheng Lai;Sying-Jyan Wang;Yu-Hsuan Fu