Scan Flip-Flop Grouping to Compress Test Data and Compact Test Responses for Launch-on-Capture Delay Testing
Scan Flip-Flop Grouping to Compress Test Data and Compact Test Responses for Launch-on-Capture Delay Testing
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扫描触发器分组以压缩测试数据并压缩测试响应以进行捕获时启动延迟测试
DOI：
10.1145/2159542.2159550
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发表时间：
2012-04
影响因子：
1.4
通讯作者：
Wang, Laung-Terng
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Xiang, Dong;Chen, Zhen;Wang, Laung-Terng
测试数据压缩是一个启动捕获（LOC）延迟测试的问题要困难得多，因为LOC延迟测试的测试数据远远超过了cat-at-at at at theft Test测试，而LOC延迟延迟故障测试在两件事中生成框架电路模型
Test data compression is a much more difficult problem for launch-on-capture (LOC) delay testing, because test data for LOC delay testing is much more than that of stuck-at fault testing, and LOC delay fault test generation in the two-frame circuit model
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DOI：
10.1109/tcad.2009.2018775
发表时间：
2009-07
影响因子：
2.9
作者：
D. Xiang;D. Hu;Qiang Xu;A. Orailoglu
通讯作者：
D. Xiang;D. Hu;Qiang Xu;A. Orailoglu
DOI：
10.1109/vtest.1994.292299
发表时间：
1994-04
期刊：
Proceedings of IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
--
作者：
J. Savir;S. Patil
通讯作者：
J. Savir;S. Patil
DOI：
--
发表时间：
1985
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
Gordon L. Smith
通讯作者：
Gordon L. Smith
DOI：
10.1109/aspdac.2007.358075
发表时间：
2007-01
期刊：
2007 Asia and South Pacific Design Automation Conference
影响因子：
--
作者：
Ahmad A. Al-Yamani;Narendra Devta-Prasanna;A. Gunda
通讯作者：
Ahmad A. Al-Yamani;Narendra Devta-Prasanna;A. Gunda
DOI：
10.1109/tcad.2004.823341
发表时间：
2004-03
影响因子：
2.9
作者：
S. Mitra;Kee-sup Kim
通讯作者：
S. Mitra;Kee-sup Kim