Tunneling spectroscopy of electron subbands in thin silicon-on-insulator metal-oxide-semiconductor field-effect transistors
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薄绝缘体上硅金属氧化物半导体场效应晶体管中电子子带的隧道光谱
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
A. Fujiwara
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
J. Noborisaka;K. Nishiguchi;H. Kageshima;Y. Ono;A. Fujiwara
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