A Built-In Self-Diagnostic Mechanism for Delay Faults Based on Self-Generation of Expected Signatures
A Built-In Self-Diagnostic Mechanism for Delay Faults Based on Self-Generation of Expected Signatures
复制标题
基于预期特征自生成的内置延迟故障自诊断机制
DOI：
10.1109/ats47505.2019.000-4
复制
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Takahashi Hiroshi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Hiramoto Yushiro;Ohtake Satoshi;Takahashi Hiroshi
在本文中，我们提出了一个内置的自诊断（BISD）机制的延迟引起的退化故障。该机制仅使用较慢的时钟在运行中生成预期的签名，并且不需要用于存储预先计算的预期签名的存储器。在我们的实验中，建议BISD机制被应用到基准电路。评估面积开销和诊断分辨率。
In this paper, we propose a built-in self-diagnosis (BISD) mechanism for delay faults induced by degradation. This mechanism solely generates expected signatures using slower clock on the fly and requires no memory for storing pre-computed expected signatures. In our experiment, the proposed BISD mechanism is applied to benchmark circuits. Area overhead and diagnostic resolution are evaluated.
登录
查看更多内容
随机逻辑电路的结构现场诊断
DOI：
--
发表时间：
2011
期刊：
2011 Sixteenth IEEE European Test Symposium
影响因子：
--
作者：
A. Cook;Melanie Elm;H. Wunderlich;U. Abelein
通讯作者：
U. Abelein
影响因子：
4.5
作者：
Li, Xinhong;Wang, Lirui;Zhang, Yukun
通讯作者：
Zhang, Yukun
一种基于间隔的诊断方案，用于识别扫描 BIST 环境中的故障向量
DOI：
--
发表时间：
2002
期刊：
Proceedings 2002 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition
影响因子：
--
作者：
Chunsheng Liu;K. Chakrabarty;M. Gössel
通讯作者：
M. Gössel
使用模糊测试集进行基于 BIST 的故障诊断
DOI：
--
发表时间：
2003
期刊：
Proceedings 18th IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems
影响因子：
--
作者：
Hiroshi Takahashi;Yasunori Tsugaoka;H. Ayano;Y. Takamatsu
通讯作者：
Y. Takamatsu
使用循环寄存器识别失败测试
DOI：
10.1109/test.1988.207818
发表时间：
1988
期刊：
International Test Conference 1988 Proceeding@m_New Frontiers in Testing
影响因子：
--
作者：
J. Savir;W. McAnney
通讯作者：
W. McAnney