A Cost-Effeetive Selective TMR for Heterogeneous Coarse-Grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-Level Vulnerability Analysis
A Cost-Effeetive Selective TMR for Heterogeneous Coarse-Grained Reconfigurable Architectures Based on DFG-Level Vulnerability Analysis
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基于DFG级漏洞分析的异构粗粒度可重构架构的经济高效选择性TMR
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takashi Sato
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Takashi Imagawa;Hiroshi Tsutsui;Hiroyuki Ochi;Takashi Sato
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DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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作者：
近藤 裕佑;他3名;Kentaro Nakahara
通讯作者：
Kentaro Nakahara
NSEU 对商业航空电子设备的影响
DOI：
10.1109/irps.2009.5173249
发表时间：
2009
期刊：
2009 IEEE International Reliability Physics Symposium
影响因子：
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作者：
David C. Matthews;M. Dion
通讯作者：
M. Dion
探索粗粒度可重构架构设计空间的可靠性评估环境
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
EICE Transactions of Fundamentals on Electronics, Communications and Computer Sciences
影响因子：
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作者：
Takashi Imagawa;Masayuki Hiromoto;Hiroyuki Ochi;Takashi Sato
通讯作者：
Takashi Sato
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
Proceedings of Workshop on Synthesis and System Integration of Mixed Technologies (発表予定)
影响因子：
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作者：
Y. Ko;D. Alnajjar;Y. Mitsuyama;M. Hashimoto;T. Onoye
通讯作者：
T. Onoye
针对安全关键应用的基于 SRAM 的 FPGA 的可调谐容错电路设计
DOI：
10.1145/1403375.1403456
发表时间：
2008
期刊：
2008 Design, Automation and Test in Europe
影响因子：
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作者：
L. Sterpone;M. Aguirre;J. Tombs;H. Guzmán
通讯作者：
H. Guzmán