Combining Correction of Delay Faults and Transient Faults
Combining Correction of Delay Faults and Transient Faults
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延时故障与瞬态故障相结合的修复
DOI：
10.1109/ddecs.2015.23
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
H. T. Vierhaus
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T. Koal;S. Scharoba;H. T. Vierhaus
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对低 k 电介质击穿进行建模以确定寿命要求
影响因子：
--
作者：
M. Bashir;L. Milor
通讯作者：
L. Milor
在线故障检测与逻辑自修复相结合
DOI：
10.1109/ddecs.2012.6219076
发表时间：
2012
期刊：
2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS)
影响因子：
--
作者：
T. Koal;Markus Ulbricht;H. Vierhaus
通讯作者：
H. Vierhaus
DOI：
10.1109/dft.2011.52
发表时间：
2011
期刊：
2011 IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
影响因子：
--
作者：
T. Koal;Daniel Scheit;Mario Schölzel;H. Vierhaus
通讯作者：
H. Vierhaus
影响因子：
2.2
作者：
D. Pradhan
通讯作者：
D. Pradhan
DOI：
10.1109/cicc.1998.695033
发表时间：
1998
期刊：
Proceedings of the IEEE 1998 Custom Integrated Circuits Conference (Cat. No.98CH36143)
影响因子：
--
作者：
P. Fang;J. Tao;Jone F. Chen;C. Hu
通讯作者：
C. Hu