Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption
Scan Chain Grouping for Mitigating IR-Drop-Induced Test Data Corruption
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用于减轻 IR 压降引起的测试数据损坏的扫描链分组
DOI：
10.1109/ats.2017.37
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Jun Qian
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Yucong Zhang;Stefan Holst;Xiaoqing Wen;Kohei Miyase;Seiji Kajihara;Jun Qian
在扫描测试期间加载和卸载测试图案会导致多个扫描触发器同时触发。移位过程中的这种瞬时切换活动可能会导致过多的IR降，这可能会扰乱某些扫描触发器的状态，并破坏测试刺激或响应。均衡这些瞬时功率浪涌的一种常见设计技术是设计多个扫描链，同时仅移位一组扫描链。本文提出了一种新的扫描链分组算法，以最小化扫描触发器上过多瞬时IR-Drop引起的测试数据损坏的概率。实验表明，在所有大型ITC‘99基准电路上都取得了最优结果。
Loading and unloading test patterns during scan testing causes many scan flip-flops to trigger simultaneously. This instantaneous switching activity during shift in turn may cause excessive IR-drop that can disrupt the states of some scan flip-flops and corrupt test stimuli or responses. A common design technique to even out these instantaneous power surges is to design multiple scan chains and shift only a group of the scan chains at a same time. This paper introduces a novel algorithm to optimally group scan chains so as to minimize the probability of test data corruption caused by excessive instantaneous IR-drop on scan flip-flops. The experiments show optimal results on all large ITC'99 benchmark circuits.
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测试时钟域优化以避免由于触发器同时触发而导致扫描移位失败
DOI：
--
发表时间：
2013
影响因子：
2.9
作者：
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通讯作者：
Hung
DOI：
10.1109/date.2008.4484642
发表时间：
2008-03
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
D. Gizopoulos;K. Roy;P. Girard;N. Nicolici;X. Wen
通讯作者：
D. Gizopoulos;K. Roy;P. Girard;N. Nicolici;X. Wen
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DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
--
作者：
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通讯作者：
A. Sanghani
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DOI：
10.1109/rme.2006.1689897
发表时间：
2006
期刊：
2006 Ph.D. Research in Microelectronics and Electronics
影响因子：
--
作者：
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通讯作者：
H. Wunderlich