Model-assisted measuring method for periodical sub-wavelength nanostructures.

Model-assisted measuring method for periodical sub-wavelength nanostructures.
复制标题

周期性亚波长纳米结构的模型辅助测量方法

DOI:
10.1364/ao.57.000092
复制
发表时间:
2018
期刊:
影响因子:
1.9
通讯作者:
A. Fischer
A. Fischer
中科院分区:
工程技术4区
文献类型:
--
作者:
G. Alexe;A. Tausendfreund;D. Stöbener;A. Fischer

文献摘要

参考文献

相似文献

根据海森堡不确定性原理的光流测速的基本不确定性极限。
DOI: 10.1364/ao.55.008787
发表时间: 2016
期刊: Applied optics
影响因子: 1.9
作者:
A. Fischer
通讯作者: A. Fischer
通过分析相干光获得的图像进行表面表征和缺陷检测
DOI: --
发表时间: 1991
期刊:
影响因子: --
作者:
P. Lonardo;A. Bruzzone;C. Gambaro;F. Parizzi
通讯作者: F. Parizzi
亚微米微电子学尺寸计量:扫描电子显微镜
DOI: --
发表时间: 1987
影响因子: --
作者:
M. Postek;D. Joy
通讯作者: D. Joy
成像共焦显微镜
DOI: --
发表时间: 2020
期刊: Advances in Optical Surface Texture Metrology
影响因子: --
作者:
R. Artigas
通讯作者: R. Artigas
DOI: --
发表时间: 1996
期刊:
影响因子: --
作者:
L. Ocola;D. Fryer;G. Reynolds;A. Krasnoperova;F. Cerrina
通讯作者: F. Cerrina