Adaptive Test Pattern Reordering for Diagnosis using k-Nearest Neighbors
Adaptive Test Pattern Reordering for Diagnosis using k-Nearest Neighbors
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使用 k 最近邻进行自适应测试模式重新排序以进行诊断
DOI：
10.1109/itc-asia51099.2020.00022
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Blanton, R.D.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Fang, Chenlei;Huang, Qicheng;Blanton, R.D.
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测试集重新排序以提高可诊断性
DOI：
10.1109/vts.2017.7928926
发表时间：
2017
期刊：
IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
--
作者：
Cheng Xue;R. D. Blanton
通讯作者：
R. D. Blanton
从产品 IC 中提取缺陷密度和尺寸分布
影响因子：
--
作者：
J. E. Nelson;T. Zanon;J. G. Brown;O. Poku;R. D. Blanton;Wojciech Maly;B. Benware;C. Schuermyer
通讯作者：
C. Schuermyer
使用 IC 诊断数据进行 DFM 评估
DOI：
--
发表时间：
2017
影响因子：
2.9
作者：
R. D. Blanton;Fa Wang;Cheng Xue;P. Nag;Yang Xue;Xin Li
通讯作者：
Xin Li
自适应测试 - 通过测试模式采样降低成本
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
International Test Conference
影响因子：
--
作者：
M. Grady;Bradley Pepper;Joshua Patch;Mike Degregorio;P. Nigh
通讯作者：
P. Nigh
用于改进诊断的故障日志选择的信息论和统计方法
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
International Test Conference
影响因子：
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作者：
Sarmad Tanwir;S. Prabhu;M. Hsiao;L. Lingappan
通讯作者：
L. Lingappan