Characterizing Point Contacting by Localized Dielectric Breakdown and Its Use in Silicon Solar Cell Applications
Characterizing Point Contacting by Localized Dielectric Breakdown and Its Use in Silicon Solar Cell Applications
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通过局部介电击穿表征点接触及其在硅太阳能电池应用中的应用
DOI:
10.1109/jphotov.2019.2953394
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发表时间:
2020
影响因子:
3
通讯作者:
Bremner S.P.
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Western N.J;Römer U;Bremner S.P.
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DOI:
--
发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
--
作者:
N. Western;I. Perez;S. Wenham;S. Bremner
通讯作者:
S. Bremner
影响因子:
3
作者:
Gatz, Sebastian;Dullweber, Thorsten;Brendel, Rolf
通讯作者:
Brendel, Rolf
影响因子:
3.1
作者:
N. Western;I. Perez;S. Wenham;S. Bremner
通讯作者:
S. Bremner
影响因子:
3
作者:
K. Fong;T. Kho;A. Fell;E. Franklin;N. Zin;A. Blakers;K. McIntosh;T. Ratcliff;M. Stocks;J. Bullock;E. Wang
通讯作者:
E. Wang
DOI:
--
发表时间:
2013
期刊:
影响因子:
--
作者:
N. Western;A. Sung;S. Wenham;S. Bremner
通讯作者:
S. Bremner