Polarity determination of crystal defects in zincblende GaN by aberration-corrected electron microscopy
Polarity determination of crystal defects in zincblende GaN by aberration-corrected electron microscopy
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通过像差校正电子显微镜测定闪锌矿 GaN 晶体缺陷的极性
DOI：
10.1063/5.0138478
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发表时间：
2023
影响因子：
3.2
通讯作者：
Xiu H
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Xiu H
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通讯作者：
Lee L
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