Enhanced 3-valued logic/fault simulation for full scan circuits using implicit logic values
Enhanced 3-valued logic/fault simulation for full scan circuits using implicit logic values
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使用隐式逻辑值对全扫描电路进行增强型三值逻辑/故障模拟
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Sudhakar M.Reddy
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Seiji Kajihara;Kewal K.Saluja;Sudhakar M.Reddy
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DOI：
10.1109/ats.2001.990304
发表时间：
2001-11
期刊：
Proceedings 10th Asian Test Symposium
影响因子：
--
作者：
Bernd Könemann;C. Barnhart;B. Keller;T. Snethen;Owen Farnsworth;D. L. Wheater
通讯作者：
Bernd Könemann;C. Barnhart;B. Keller;T. Snethen;Owen Farnsworth;D. L. Wheater
使用后向蕴涵的多重观测时间方法下的故障模拟
DOI：
10.1145/266021.266297
发表时间：
1997
期刊：
Proceedings of the 34th Design Automation Conference
影响因子：
--
作者：
I. Pomeranz;S. Reddy
通讯作者：
S. Reddy
多观测时间测试方法下的低复杂度故障模拟
DOI：
10.1109/test.1995.529842
发表时间：
1995
期刊：
Proceedings of 1995 IEEE International Test Conference (ITC)
影响因子：
--
作者：
I. Pomeranz;S. Reddy
通讯作者：
S. Reddy
将 OPMISR 扫描测试效率提升至 10 倍以上
DOI：
10.1109/mdt.2002.1033794
发表时间：
2002
期刊：
IEEE Des. Test Comput.
影响因子：
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作者：
C. Barnhart;Vanessa Brunkhorst;Frank Distler;Owen Farnsworth;A. Ferko;B. Keller;David Scott;Bernd Könemann;Takeshi Onodera
通讯作者：
Takeshi Onodera
DOI：
10.1145/513918.513985
发表时间：
2002
期刊：
Proceedings 2002 Design Automation Conference (IEEE Cat. No.02CH37324)
影响因子：
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作者：
I. Pomeranz;S. Kundu;S. Reddy
通讯作者：
S. Reddy