On Delay Measurement under Delay Variations in Boundary Scan Circuit with Embedded TDC

On Delay Measurement under Delay Variations in Boundary Scan Circuit with Embedded TDC
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嵌入式TDC边界扫描电路延迟变化下的延迟测量

DOI:
--
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发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
中科院分区:
--
文献类型:
--
作者:
Shuya Kikuchi;Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume

文献摘要

参考文献

被引文献

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