On Delay Measurement under Delay Variations in Boundary Scan Circuit with Embedded TDC
On Delay Measurement under Delay Variations in Boundary Scan Circuit with Embedded TDC
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嵌入式TDC边界扫描电路延迟变化下的延迟测量
DOI:
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发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
中科院分区:
文献类型:
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作者:
Shuya Kikuchi;Hiroyuki Yotsuyanagi and Masaki Hashizume
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DOI:
10.1007/978-1-4757-2142-3
发表时间:
1992
期刊:
--
影响因子:
--
作者:
K. Parker
通讯作者:
K. Parker
DOI:
10.1109/tcad.2004.826540
发表时间:
2004
影响因子:
2.9
作者:
M. Tehranipour;N. Ahmed;M. Nourani
通讯作者:
M. Nourani
DOI:
10.1587/transinf.e96.d.1986
发表时间:
2013
期刊:
IEICE Trans. Inf. Syst.
影响因子:
--
作者:
H. Yotsuyanagi;H. Makimoto;Takanobu Nimiya;Masaki Hashizume
通讯作者:
Masaki Hashizume
DOI:
10.1109/tvlsi.2011.2125994
发表时间:
2012
影响因子:
2.8
作者:
Kentaroh Katoh;K. Namba;Hideo Ito
通讯作者:
Hideo Ito
DOI:
10.1109/vts.2008.25
发表时间:
2008
期刊:
IEEE VLSI Test Symposium
影响因子:
--
作者:
Ming Tsai;Ching;Chiou
通讯作者:
Chiou