Measurement and analysis of substrate leakage current of RF mems capacitive switches
Measurement and analysis of substrate leakage current of RF mems capacitive switches
复制标题
RF MEMS电容开关基板漏电流的测量与分析
DOI：
10.1016/j.microrel.2013.07.011
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发表时间：
2014
影响因子：
1.6
通讯作者：
朱雁青
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
朱雁青
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DOI：
10.1117/12.590132
发表时间：
2005-05
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
A. Ziaei;T. Dean;J. Polizzi
通讯作者：
A. Ziaei;T. Dean;J. Polizzi
影响因子：
3.2
作者：
Govor, LV;Bashmakov, IA;Parisi, J
通讯作者：
Parisi, J
DOI：
10.1016/j.microrel.2009.07.006
发表时间：
2009-09
期刊：
Microelectron. Reliab.
影响因子：
--
作者：
U. Zaghloul;G. Papaioannou;F. Coccetti;P. Pons;R. Plana
通讯作者：
U. Zaghloul;G. Papaioannou;F. Coccetti;P. Pons;R. Plana
影响因子：
4.6
作者：
Czarnecki, P.;Rottenberg, X.;De Wolf, I.
通讯作者：
De Wolf, I.
影响因子：
4
作者：
J. Shannon;S. Deane;B. McGarvey;J. N. Sandoe
通讯作者：
J. Shannon;S. Deane;B. McGarvey;J. N. Sandoe