Dependable VLSI Platform with Variability and Soft-Error Resilience
Dependable VLSI Platform with Variability and Soft-Error Resilience
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具有可变性和软错误恢复能力的可靠 VLSI 平台
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hidetoshi Onodera
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Ryo Emoto;Atsushi Kawaguchi;Hisako Yoshida;Shigeyuki Matsui;Hidetoshi Onodera
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DOI：
10.1109/isqed.2010.5450481
发表时间：
2010
期刊：
2010 11th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED)
影响因子：
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作者：
Syed M. A. H. Jafri;S. Piestrak;O. Sentieys;S. Pillement
通讯作者：
S. Pillement
基于DFG级漏洞分析的异构粗粒度可重构架构的经济高效选择性TMR
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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作者：
Takashi Imagawa;Hiroshi Tsutsui;Hiroyuki Ochi;Takashi Sato
通讯作者：
Takashi Sato
65 nm 低功耗自适应耦合冗余触发器
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
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影响因子：
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作者：
Masuda Masaki;K. Kanto;Yamamoto Ryosuke;Furuta Jun;Kobayashi Kazutoshi;O. Hidetoshi
通讯作者：
O. Hidetoshi
D 触发器的容变设计
DOI：
10.1109/socc.2010.5784732
发表时间：
2010
期刊：
23rd IEEE International SOC Conference
影响因子：
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作者：
Hiroki Sunagawa;H. Onodera
通讯作者：
H. Onodera
变异建模及其对设计的影响
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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作者：
W. Matsubara;S. Inenaga;A. Ishino;A. Shinohara;T. Nakamura;K. Hashimoto;Hidetoshi Onodera
通讯作者：
Hidetoshi Onodera