Exceptional Repetitive-Short-Circuit Robustness of Vertical GaN Fin-JFET at High Voltage
Exceptional Repetitive-Short-Circuit Robustness of Vertical GaN Fin-JFET at High Voltage
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垂直 GaN Fin-JFET 在高电压下具有出色的重复短路鲁棒性
DOI：
10.1109/ispsd49238.2022.9813618
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Zhang, Y.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Zhang, R.;Liu, J.;Li, Q.;Pidaparthi, S.;Edwards, A.;Drowley, C.;Zhang, Y.
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