Magic Layer Thickness in Bi Ultrathin Films on Si(111) Surface
Magic Layer Thickness in Bi Ultrathin Films on Si(111) Surface
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Si(111) 表面 Bi 超薄膜的神奇层厚度
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Mineo Saito
中科院分区：
文献类型：
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作者：
D.Y.Kim;S.Kimura 他8名;Hiroaki Koga;Mineo Saito
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通过场离子扫描隧道显微镜观察 Bi/Si(111) 表面的结构
影响因子：
1.5
作者：
Chan Park;R. Z. Bakhtizin;Tomihiro Hashizume Tomihiro Hashizume;Toshio Sakurai Toshio Sakurai
通讯作者：
Toshio Sakurai Toshio Sakurai
GaAs DX 中心的化学趋势和 s-p 杂化。
DOI：
10.1103/physrevb.48.11804
发表时间：
1993
期刊：
Physical Review B (Condensed Matter)
影响因子：
--
作者：
Saito;Oshiyama
通讯作者：
Oshiyama
影响因子：
8.6
作者：
R. Tromp;A. W. D. V. D. Gon;F. Legoues;Mark C. Reuter
通讯作者：
Mark C. Reuter
X射线衍射分析Si(111)√3 × √3-Bi的表面结构——相位问题的求解方法
影响因子：
1.9
作者：
Toshio Takahashi;S. Nakatani;T. Ishikawa;S. Kikuta
通讯作者：
S. Kikuta
通过近垂直入射条件下的 X 射线衍射证明 Si(111) 表面结构中存在三聚体
DOI：
10.1016/s0039-6028(87)80330-8
发表时间：
1987
期刊：
影响因子：
--
作者：
Toshio Takahashi;K. Izumi;T. Ishikawa;S. Kikuta
通讯作者：
S. Kikuta