On the Impact of Aging on Power Analysis Attacks Targeting Power-Equalized Cryptographic Circuits
On the Impact of Aging on Power Analysis Attacks Targeting Power-Equalized Cryptographic Circuits
复制标题
老化对针对功率均衡密码电路的功率分析攻击的影响
DOI：
--
复制
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Karimi, Naghmeh
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Anik, Md Toufiq;Fadaeinia, Bijan;Moradi, Amir;Karimi, Naghmeh
登录
查看更多内容
DOI：
10.1145/3194554.3194638
发表时间：
2018-05
期刊：
Proceedings of the 2018 Great Lakes Symposium on VLSI
影响因子：
--
作者：
Naghmeh Karimi;S. Guilley;J. Danger
通讯作者：
Naghmeh Karimi;S. Guilley;J. Danger
纳米级电路可靠性的 NBTI 监测和设计
DOI：
--
发表时间：
2011
期刊：
IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems
影响因子：
--
作者：
Seyab Khan;N. Haron;S. Hamdioui;F. Catthoor
通讯作者：
F. Catthoor
探索设备老化对静态功率分析攻击的影响
DOI：
10.13154/tches.v2019.i3.233-256
发表时间：
2019
期刊：
IACR Trans. Cryptogr. Hardw. Embed. Syst.
影响因子：
--
作者：
N. Karimi;T. Moos;A. Moradi
通讯作者：
A. Moradi
用于基于标准单元设计的 NBTI 感知电压缩放和体偏置的细粒度技术
DOI：
--
发表时间：
2011
期刊：
Asia and South Pacific Design Automation Conference
影响因子：
--
作者：
Yongho Lee;Taewhan Kim
通讯作者：
Taewhan Kim
基于硬件的内存地址解码器老化缓解方案
DOI：
--
发表时间：
2019
期刊：
IEEE European Test Symposium
影响因子：
--
作者：
Daniel Kraak;I. Agbo;M. Taouil;S. Hamdioui;P. Weckx;S. Cosemans;F. Catthoor
通讯作者：
F. Catthoor