A BIST Scheme for Bootstrapped Switches
A BIST Scheme for Bootstrapped Switches
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自举开关的 BIST 方案
DOI：
10.3390/electronics10141661
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
2.9
通讯作者：
Masayoshi Tachibana ; Tang Xiaobin
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
TAKEUCHI Yuta;AOYAMA Shunya;SATO Masanori;KUROKI Nobutaka;ICHIOKA Yoshihiro;SUGANUMA Naoaki;Masayoshi Tachibana ; Tang Xiaobin
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DOI：
10.1109/tcsii.2020.2991241
发表时间：
2020-12-01
影响因子：
4.4
作者：
Ballo, Andrea;Grasso, Alfio Dario;Palumbo, Gaetano
通讯作者：
Palumbo, Gaetano
用于采样保持电路的低压 CMOS 模拟自举开关：设计和芯片表征
DOI：
10.1109/iscas.2005.1465058
发表时间：
2005
期刊：
2005 IEEE International Symposium on Circuits and Systems
影响因子：
--
作者：
C. Fayomi;G. Roberts;M. Sawan
通讯作者：
M. Sawan
用于射频低噪声放大器 (LNA) 的新型内置自测试 (BIST)
DOI：
10.1109/dtis.2010.5487559
发表时间：
2010
期刊：
5th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems in Nanoscale Era
影响因子：
--
作者：
R. Ayadi;M. Masmoudi
通讯作者：
M. Masmoudi
基于码宽测试的紧凑型 ADC BIST 电路
DOI：
10.1109/tcsii.2004.836034
发表时间：
2004
期刊：
IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs
影响因子：
--
作者：
Dongmyung Lee;Kwi;Kicheol Kim;G. Han;Sungho Kang
通讯作者：
Sungho Kang
使用优化的故障集和瞬态响应测试对模拟电路进行内置自测试
DOI：
10.1109/olt.2002.1030196
发表时间：
2002
期刊：
Proceedings of the Eighth IEEE International On-Line Testing Workshop (IOLTW 2002)
影响因子：
--
作者：
N. Axelos;J. Watson;D. Taylor;A. Platts;Dept. Electronic;Electrical Eng
通讯作者：
Electrical Eng