A 13-bit Radiation-Hardened SAR-ADC with Error Correction by Adaptive Topology Transformation
A 13-bit Radiation-Hardened SAR-ADC with Error Correction by Adaptive Topology Transformation
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通过自适应拓扑变换进行纠错的 13 位抗辐射 SAR-ADC
DOI：
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发表时间：
2023
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K. Kobayashi and T. Yoshikawa
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Y. Aoki;T. Iwata;T. Miki;K. Kobayashi and T. Yoshikawa
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