Real-time observation of film structure using X-ray waveguide phenomenon
Real-time observation of film structure using X-ray waveguide phenomenon
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利用X射线波导现象实时观察薄膜结构
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
M. Ito
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Hayashi;W. Hu;T. Nakamura;H. Takenaka;K. Suzuki;M. Ito
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