FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST
FF-Control Point Insertion (FF-CPI) to Overcome the Degradation of Fault Detection under Multi-Cycle Test for POST
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FF 控制点插入 (FF-CPI) 可克服 POST 多周期测试下故障检测的退化
DOI：
10.1587/transinf.2019edp7235
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发表时间：
2020
影响因子：
0.7
通讯作者：
MATSUSHIMA Jun
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Al-AWADHI Hanan T.;AONO Tomoki;WANG Senling;HIGAMI Yoshinobu;TAKAHASHI Hiroshi;IWATA Hiroyuki;MAEDA Yoichi;MATSUSHIMA Jun
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基于扫描的 BIST 结构的多周期测试和部分观察
DOI：
10.1109/ats.2011.34
发表时间：
2011
期刊：
2011 Asian Test Symposium
影响因子：
--
作者：
Yasuo Sato;Hisato Yamaguchi;Makoto Matsuzono;S. Kajihara
通讯作者：
S. Kajihara
影响因子：
3.6
作者：
K. Yoon
通讯作者：
K. Yoon
DOI：
10.1109/date.2008.4484642
发表时间：
2008-03
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
D. Gizopoulos;K. Roy;P. Girard;N. Nicolici;X. Wen
通讯作者：
D. Gizopoulos;K. Roy;P. Girard;N. Nicolici;X. Wen
具有每周期捕获混合测试点的全扫描 LBIST
DOI：
10.1109/test.2017.8242036
发表时间：
2017
期刊：
2017 IEEE International Test Conference (ITC)
影响因子：
--
作者：
Sylwester Milewski;N. Mukherjee;J. Rajski;J. Solecki;J. Tyszer;Justyna Zawada
通讯作者：
Justyna Zawada
利用浪费的时钟周期：通过扫描移位捕获增强偶然单元感知故障检测
DOI：
10.1109/test.2016.7805828
发表时间：
2016
期刊：
2016 IEEE International Test Conference (ITC)
影响因子：
--
作者：
Fanchen Zhang;D. Hwong;Yi Sun;Allison Garcia;Soha Alhelaly;G. Shofner;L. Winemberg;Jennifer Dworak
通讯作者：
Jennifer Dworak