A Test Decompression Scheme for Variable-Length Coding
A Test Decompression Scheme for Variable-Length Coding
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变长编码的测试解压方案
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
T.Inoue
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H.Ichihara;M.Ochi;M.Shintani;T.Inoue
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使用具有固定长度索引的字典测试数据压缩[SOC 测试]
DOI：
10.1109/vtest.2003.1197654
发表时间：
2003
期刊：
Proceedings. 21st VLSI Test Symposium, 2003.
影响因子：
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作者：
Lei Li;K. Chakrabarty
通讯作者：
K. Chakrabarty
基于数据包的输入测试数据压缩技术
DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
Proceedings. International Test Conference
影响因子：
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作者：
E. Volkerink;A. Khoche;S. Mitra
通讯作者：
S. Mitra
使用预先计算的测试集对时序电路进行内置自测试
DOI：
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发表时间：
1998
期刊：
Proceedings of the ... IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
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作者：
V. Iyengar;K. Chakrabarty;B. Murray
通讯作者：
B. Murray
使用统计编码生成用于测试压缩/解压缩方案的小型测试集
DOI：
10.1109/delta.2002.994658
发表时间：
2002
期刊：
Proceedings First IEEE International Workshop on Electronic Design, Test and Applications '2002
影响因子：
--
作者：
H. Ichihara;Tomoo Inoue
通讯作者：
Tomoo Inoue
使用统计编码的动态测试压缩
DOI：
10.1109/ats.2001.990273
发表时间：
2001
期刊：
Proceedings 10th Asian Test Symposium
影响因子：
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作者：
H. Ichihara;Atsuhiro Ogawa;T. Inoue;A. Tamura
通讯作者：
A. Tamura