X-ray absorption microspectroscopy using Kelvin force microscopy with x-ray source
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使用带有 X 射线源的开尔文力显微镜进行 X 射线吸收显微光谱分析
DOI：
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发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
B.Hamilton
中科院分区：
文献类型：
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作者：
M.Ishii;N.Rigopoulos;N.Poolton;B.Hamilton
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DOI：
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