Magnetic force microscopy with frequency-modulated capacitive tip–sample distance control

Magnetic force microscopy with frequency-modulated capacitive tip–sample distance control
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具有频率调制电容尖端样本距离控制的磁力显微镜

DOI:
10.1088/1367-2630/aa9ca9
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发表时间:
2018
影响因子:
3.3
通讯作者:
Marioni
Marioni
中科院分区:
物理与天体物理2区
文献类型:
--
作者:
Schwenk;Mandru;Penedo;Bacani;Marioni

文献摘要

参考文献

被引文献

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在常规实现10 nm的空间分辨率与磁力显微镜的一步,我们已经开发出一个强大的方法,主动尖样品距离控制的悬臂梁振荡的频率调制的基础上。它允许我们在整个测量过程中保持10 nm量级的良好定义的尖端-样品距离,即使在存在能量耗散过程的情况下也优于0.4 nm的精度,并且足以在真空中进行单通道非接触操作。悬臂梁在锁相环中被机械激励,以其第一弯曲共振模式以恒定振幅振荡。该频率由从几百Hz到几kHz振荡的尖端样品偏压产生的静电力梯度调制。边带的振幅之和是尖端-样本距离的代表,并且可以用于尖端-样本距离控制。这种方法也可以推广到其他扫描探针显微镜技术。
In a step towards routinely achieving 10 nm spatial resolution with magnetic force microscopy, we have developed a robust method for active tip–sample distance control based on frequency modulation of the cantilever oscillation. It allows us to keep a well-defined tip–sample distance of the order of 10 nm within better than 0.4 nm precision throughout the measurement even in the presence of energy dissipative processes, and is adequate for single-passage non-contact operation in vacuum. The cantilever is excited mechanically in a phase-locked loop to oscillate at constant amplitude on itsfirstflexural resonance mode. This frequency is modulated by an electrostatic force gradient generated by tip–sample bias oscillating from a few hundred Hz up to a few kHz. The sum of the side bands’ amplitudes is a proxy for the tip–sample distance and can be used for tip–sample distance control. This method can also be extended to other scanning probe microscopy techniques.
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DOI: --
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