Variation in contrast of scanning electron microscope images for microstructure analysis of Si-based semiconductor materials
Variation in contrast of scanning electron microscope images for microstructure analysis of Si-based semiconductor materials
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用于硅基半导体材料微观结构分析的扫描电子显微镜图像对比度变化
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
et al
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Masaru Itakura;et al
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影响因子：
4
作者：
H. Kanno;K. Toko;T. Sadoh;M. Miyao
通讯作者：
H. Kanno;K. Toko;T. Sadoh;M. Miyao
电子显微镜技术在哥伦比亚号航天飞机事故调查中的应用
DOI：
10.1017/s1551929500053748
发表时间：
2005
期刊：
Microscopy Today
影响因子：
--
作者：
Sandeep R. Shah;G. Jerman
通讯作者：
G. Jerman
影响因子：
2.1
作者：
M. Itakura;Syunji Masumori;T. Ohta;Y. Tomokiyo;N. Kuwano;H. Kanno;T. Sadoh;M. Miyao
通讯作者：
M. Itakura;Syunji Masumori;T. Ohta;Y. Tomokiyo;N. Kuwano;H. Kanno;T. Sadoh;M. Miyao
使用带有微通道板背散射电子探测器的场发射扫描电子显微镜对聚合物进行成分成像
影响因子：
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作者：
J. Brostin
通讯作者：
J. Brostin
影响因子：
2.8
作者：
H. Jaksch;M. Steigerwald;V. Drexel
通讯作者：
V. Drexel