Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information
Identification of High Power Consuming Areas with Gate Type and Logic Level Information
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通过门类型和逻辑电平信息识别高功耗区域
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
S. Kajihara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
K. Miyase;M. Sauer;B. Becker;X. Wen;S. Kajihara
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最先进的低捕获功率方法
DOI：
10.1109/test.2011.6139164
发表时间：
2011
期刊：
2011 IEEE International Test Conference
影响因子：
--
作者：
Swapnil Bahl;R. Mattiuzzo;Shray Khullar;A. Garg;S. Graniello;Khader S. Abdel;S. Talluto
通讯作者：
S. Talluto
DOI：
10.1109/date.2008.4484642
发表时间：
2008-03
期刊：
--
影响因子：
--
作者：
D. Gizopoulos;K. Roy;P. Girard;N. Nicolici;X. Wen
通讯作者：
D. Gizopoulos;K. Roy;P. Girard;N. Nicolici;X. Wen
DOI：
10.1145/1278480.1278615
发表时间：
2007-06
期刊：
2007 44th ACM/IEEE Design Automation Conference
影响因子：
--
作者：
X. Wen;K. Miyase;Tatsuya Suzuki;S. Kajihara;Yuji Ohsumi;K. Saluja
通讯作者：
X. Wen;K. Miyase;Tatsuya Suzuki;S. Kajihara;Yuji Ohsumi;K. Saluja
最大电源噪声影响下的布局感知关键路径延迟测试
DOI：
10.1109/tcad.2011.2163159
发表时间：
2011
影响因子：
2.9
作者：
Junxia Ma;M. Tehranipoor
通讯作者：
M. Tehranipoor