High spatial resolution electronic state analysis using monochromated STEM-EELS
High spatial resolution electronic state analysis using monochromated STEM-EELS
复制标题
使用单色 STEM-EELS 进行高空间分辨率电子态分析
DOI：
--
复制
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Takashi Nemoto and Mitsutaka Haruta
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Hiroki Kurata;Takashi Nemoto and Mitsutaka Haruta
登录
查看更多内容
影响因子：
4.9
作者：
Okamoto, Dai;Yano, Hiroshi;Fuyuki, Takashi
通讯作者：
Fuyuki, Takashi
为什么键长和内聚力的变化会导致金属的核心水平变化，以及对空间差异法的影响
DOI：
--
发表时间：
1999
期刊：
影响因子：
--
作者：
D. Muller
通讯作者：
D. Muller
通过结合 N2O 氧化和硼扩散改进 4H-SiC N-MOSFET 界面钝化
DOI：
10.4028/www.scientific.net/msf.897.352
发表时间：
2016
期刊：
Materials Science Forum
影响因子：
--
作者：
M. Cabello;V. Soler;N. Mestres;J. Montserrat;J. Rebollo;J. Millán;P. Godignon
通讯作者：
P. Godignon
二次离子质谱：深度分析和表面表征的应用
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
--
作者：
F. Stevie
通讯作者：
F. Stevie
影响因子：
2.1
作者：
Chang, KC;Bentley, J;Porter, LM
通讯作者：
Porter, LM