A Critical Charge Model for Estimating the SET and SEU Sensitivity: A Muller C-Element Case Study
A Critical Charge Model for Estimating the SET and SEU Sensitivity: A Muller C-Element Case Study
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用于估计 SET 和 SEU 灵敏度的关键电荷模型：Muller C 元件案例研究
DOI：
10.1109/ats.2017.27
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
A. Steininger
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
M. Andjelkovic;V. S. Veeravalli;M. Krstic;R. Kraemer;A. Steininger
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DOI：
10.1109/iolts.2009.5195993
发表时间：
2009
期刊：
2009 15th IEEE International On-Line Testing Symposium
影响因子：
--
作者：
S. Bota;G. Torrens;B. Alorda
通讯作者：
B. Alorda
DOI：
10.1109/tvlsi.2009.2020391
发表时间：
2009-08
影响因子：
2.8
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Daniele Rossi;J. M. Cazeaux;Martin Omaña;C. Metra;A. Chatterjee
通讯作者：
Daniele Rossi;J. M. Cazeaux;Martin Omaña;C. Metra;A. Chatterjee
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DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
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--
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Varadan Savulimedu Veeravalli;A. Steininger
通讯作者：
A. Steininger
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DOI：
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发表时间：
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影响因子：
--
作者：
Z. A. Tarawneh;G. Russell;A. Yakovlev
通讯作者：
A. Yakovlev
DOI：
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发表时间：
1989
期刊：
影响因子：
--
作者：
X. Zhang
通讯作者：
X. Zhang