Simulations and Measurements of Failure Modes in SiC Cascode JFETs under Short Circuit Conditions
Simulations and Measurements of Failure Modes in SiC Cascode JFETs under Short Circuit Conditions
复制标题
短路条件下 SiC 共源共栅 JFET 失效模式的仿真和测量
DOI：
10.1109/compel52922.2021.9646031
复制
发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Agbo S
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Agbo S
登录
查看更多内容
DOI：
10.1109/ecce.2013.6646739
发表时间：
2013-10
期刊：
2013 IEEE Energy Conversion Congress and Exposition
影响因子：
--
作者：
Alberto Rodríguez;Marcos Fernandez;M. Hernando;D. G. Lamar;M. Arias;J. Sebastián
通讯作者：
Alberto Rodríguez;Marcos Fernandez;M. Hernando;D. G. Lamar;M. Arias;J. Sebastián
影响因子：
1.6
作者：
S. Agbo;J. Ortiz-Gonzalez;O. Alatise
通讯作者：
S. Agbo;J. Ortiz-Gonzalez;O. Alatise
影响因子：
3.1
作者：
K. Puschkarsky;Tibor Grasser;T. Aichinger;W. Gustin;Hans Reisinger
通讯作者：
K. Puschkarsky;Tibor Grasser;T. Aichinger;W. Gustin;Hans Reisinger
适用于高压应用且具有 SiC 共源共栅 JFET 的无变压器高增益 DC-DC 转换器
DOI：
10.1109/ipmhvc.2018.8936777
发表时间：
2018
期刊：
2018 IEEE International Power Modulator and High Voltage Conference (IPMHVC)
影响因子：
--
作者：
Saleh S. Alharbi;Salah S. Alharbi;M. Matin
通讯作者：
M. Matin
SiC 共源共栅 JFET 在电动汽车牵引逆变器中的潜力
影响因子：
7
作者：
R. Wu;J. González;Z. Davletzhanova;P. Mawby;O. Alatise
通讯作者：
O. Alatise