IPSA: Integer Programming via Sparse Approximation for Efficient Test-Chip Design
IPSA: Integer Programming via Sparse Approximation for Efficient Test-Chip Design
复制标题
IPSA：通过稀疏近似进行整数编程以实现高效的测试芯片设计
DOI：
10.1109/iccd46524.2019.00011
复制
发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Blanton, R. D.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Huang, Qicheng;Fang, Chenlei;Liu, Zeye;Ding, Ruizhou;Blanton, R. D.
登录
查看更多内容
半导体制造中的偏移良率损失和周期时间缩短
影响因子：
5.6
作者：
R. Leachman;Shengwei Ding
通讯作者：
Shengwei Ding
最佳测试芯片实施的设计反思
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
International Test Conference
影响因子：
--
作者：
R. D. Blanton;Ben Niewenhuis;Z. Liu
通讯作者：
Z. Liu
用于产量学习的最大信息提取的逻辑表征车辆设计
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
International Test Conference
影响因子：
--
作者：
R. D. Blanton;Ben Niewenhuis;C. Taylor
通讯作者：
C. Taylor
通过%20设计实现%20100%%20细胞感知%20覆盖%20
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
Design, Automation and Test in Europe
影响因子：
--
作者：
Z. Liu;Ben Niewenhuis;Soumya Mittal;R. D. Blanton
通讯作者：
R. D. Blanton
通过布局重新布线反映车辆设计逻辑特征
DOI：
--
发表时间：
2016
期刊：
International Test Conference
影响因子：
--
作者：
Phillip Fynan;Z. Liu;Ben Niewenhuis;Soumya Mittal;Marcin Strajwas;R. D. Blanton
通讯作者：
R. D. Blanton