A 1.6pJ/b 65Gb/s Si-Dielectric-Waveguide based Multi-Mode Multi-Drop sub-THz Interconnect in 65nm CMOS
A 1.6pJ/b 65Gb/s Si-Dielectric-Waveguide based Multi-Mode Multi-Drop sub-THz Interconnect in 65nm CMOS
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基于 65nm CMOS 的 1.6pJ/b 65Gb/s 硅电介质波导多模多点亚太赫兹互连
DOI:
10.1109/cicc57935.2023.10121251
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发表时间:
2023
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
Gu, Qun Jane
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Ding, Xuan;Yu, Hai;Sabbaghi, Sajjad;Gu, Qun Jane
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DOI:
10.1109/isscc42614.2022.9731707
发表时间:
2022
期刊:
2022 IEEE International Solid- State Circuits Conference (ISSCC)
影响因子:
--
作者:
Haihong Song;Hanho Choi;J. Yoo;Hyosup Won;Cheong Min Lee;Huxian Jin;T. Kim;Woohyun Kwon;Kyoohyun Lim;Konan Kwon;Chang;Taeho Kim;Jun;Jake Eu;S. Park;Hyeon
通讯作者:
Hyeon
影响因子:
5.4
作者:
J. Nam;M. Chen
通讯作者:
M. Chen
DOI:
--
发表时间:
2022
期刊:
2022 IEEE International Symposium on Radio-Frequency Integration Technology
影响因子:
--
作者:
Xuan Ding, Bo Yu
通讯作者:
Xuan Ding, Bo Yu
DOI:
10.1109/isscc42613.2021.9365857
发表时间:
2021
期刊:
2021 IEEE International Solid- State Circuits Conference (ISSCC)
影响因子:
--
作者:
J. Holloway;G. Dogiamis;R. Han
通讯作者:
R. Han
DOI:
10.23919/vlsicircuits52068.2021.9492382
发表时间:
2021
期刊:
2021 Symposium on VLSI Circuits
影响因子:
--
作者:
M. Wade;Daniel Jeong;Byungchae Kim;Mason Zhang;Woorham Bae;Chong Zhang;Pavan Bhargava;D. V. Orden;S. Ardalan;C. Ramamurthy;E. Anderson;Austin Katzin;Haiwei Lu;S. Buchbinder;Behrooz Beheshtian;A. Khilo;M. Rust;Chen Li;Forrest Sedgwick;J. Fini;Roy Meade;V. Stojanović;Chen Sun
通讯作者:
Chen Sun