Residual Stress Analysis by Energy-Dispersive Synchrotron Diffraction: Concepts for High Resolution Depth Profiling in Real Space
Residual Stress Analysis by Energy-Dispersive Synchrotron Diffraction: Concepts for High Resolution Depth Profiling in Real Space
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通过能量色散同步加速器衍射进行残余应力分析：真实空间高分辨率深度分析的概念
DOI：
10.4028/www.scientific.net/msf.768-769.44
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发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Genzel
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Meixner;Genzel
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DOI：
10.4028/www.scientific.net/msf.768-769.3
发表时间：
2013-09
期刊：
Materials Science Forum
影响因子：
--
作者：
C. Genzel;D. Apel;M. Klaus;Martin Genzel;D. Balzar
通讯作者：
C. Genzel;D. Apel;M. Klaus;Martin Genzel;D. Balzar
用衍射法测定表面处理材料的真实空间残余应力分布 σij(z) 第二部分：能量色散法
DOI：
10.4028/www.scientific.net/msf.524-525.37
发表时间：
2006
期刊：
Materials Science Forum
影响因子：
--
作者：
Ingwer A. Denks;M. Klaus;C. Genzel
通讯作者：
C. Genzel
通过能量色散 X 射线衍射实验评估磨削钢板中的应力场
DOI：
--
发表时间：
1993
期刊：
影响因子：
--
作者：
H. Ruppersberg;I. Detemple
通讯作者：
I. Detemple
通过衍射实验评估强非线性表面应力场 σxx(z) 和 σyy(z)
DOI：
--
发表时间：
1989
期刊：
影响因子：
--
作者：
H. Ruppersberg;I. Detemple;J. Krier
通讯作者：
J. Krier
X 射线衍射法残余应力分析
DOI：
10.1002/9783527649884.ch5
发表时间：
2013
期刊：
HTM Journal of Heat Treatment and Materials
影响因子：
--
作者：
C. Genzel;I. Denks;M. Klaus
通讯作者：
M. Klaus