Ohmic co-doped GaN/InGaN tunneling diode grown by MOCVD

Ohmic co-doped GaN/InGaN tunneling diode grown by MOCVD
复制标题

MOCVD 生长欧姆共掺杂 GaN/InGaN 隧道二极管

DOI:
10.1063/5.0103152
复制
发表时间:
2022
影响因子:
4
通讯作者:
Bedair, S. M.
Bedair, S. M.
中科院分区:
物理与天体物理2区
文献类型:
--
作者:
Hagar, B. G.;Abdelhamid, M.;Routh, E. L.;Colter, P. C.;Bedair, S. M.

文献摘要

参考文献

相似文献

P 型 InxGa1−xN 半块状模板 (0.02 < x < 0.16),室温空穴浓度为 1019 cm−3 中部,器件质量表面形貌
DOI: --
发表时间: 2021
影响因子: 4
作者:
E. L. Routh;M. Abdelhamid;P. Colter;N. El;S. Bedair
通讯作者: S. Bedair
用于 MQW 受控发射的 In Ga1−N (0<x<0.16) 模板的生长和表征
DOI: --
发表时间: 2019
影响因子: 1.8
作者:
M. Abdelhamid;J. Reynolds;N. El;S. Bedair
通讯作者: S. Bedair
DOI: 10.1063/1.354753
发表时间: 1993-08-01
影响因子: 3.2
作者:
JUNG, D;PARKER, CA;BEDAIR, SM
通讯作者: BEDAIR, SM
DOI: 10.1063/1.4819917
发表时间: 2013-09
影响因子: 4
作者:
J. Samberg;C. Carlin;G. Bradshaw;P. Colter;Jeffrey L. Harmon;J. Allen;J. Hauser;S. Bedair
通讯作者: J. Samberg;C. Carlin;G. Bradshaw;P. Colter;Jeffrey L. Harmon;J. Allen;J. Hauser;S. Bedair
高性能生长和退火高带隙隧道结:界面处的 Te 行为
DOI: --
发表时间: 2016
期刊:
影响因子: --
作者:
S. Bedair;Jeffrey L. Harmon;C. Carlin;I. Sayed;P. Colter
通讯作者: P. Colter