Measurement of temperature effect on comparator offset voltage variation
Measurement of temperature effect on comparator offset voltage variation
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测量温度对比较器失调电压变化的影响
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and Mahfuzul Islam
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yuma Iwata;Takehiro Kitamura;and Mahfuzul Islam
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使用多个比较器组改进基于阶数统计的闪存 ADC 的性能
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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作者：
Takehiro Kitamura;Mahfuzul Islam;Takashi Hisakado;and Osami Wada
通讯作者：
and Osami Wada
内插式闪存ADC设计技术
DOI：
10.1109/icsict.2010.5667805
发表时间：
2010
期刊：
IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology
影响因子：
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作者：
H. Tang;H. Zhao;S. Fan;X. Wang;L. Lin;Q. Fang;J. Liu;A. Wang;B. Zhao
通讯作者：
B. Zhao
温度对 MOSFET 失配影响的分析
DOI：
10.1109/icmts.2009.4814610
发表时间：
2009
期刊：
2009 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
影响因子：
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作者：
S. Mennillo;Alessio Spessot;L. Vendrame;L. Bortesi
通讯作者：
L. Bortesi
利用工艺变化在闪存 ADC 中生成参考信号
DOI：
10.1109/tcsii.2009.2019165
发表时间：
2009
期刊：
IEEE Transactions on Circuits and Systems II: Express Briefs
影响因子：
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作者：
Timmy Sundström;A. Alvandpour
通讯作者：
A. Alvandpour
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
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影响因子：
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作者：
Iroon Polytechniou-
通讯作者：
Iroon Polytechniou-