Observation of InGaAs Quantum Point Contact via Scanning Gate Microscopy
Observation of InGaAs Quantum Point Contact via Scanning Gate Microscopy
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通过扫描门显微镜观察 InGaAs 量子点接触
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Yuichi Ochiai
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Nobuyuki Aoki;Yuichi Ochiai
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