ASCH-PUF: A “Zero” Bit Error Rate CMOS Physically Unclonable Function With Dual-Mode Low-Cost Stabilization
ASCH-PUF: A “Zero” Bit Error Rate CMOS Physically Unclonable Function With Dual-Mode Low-Cost Stabilization
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ASCH-PUF：具有双模低成本稳定功能的“零误码率 CMOS 物理不可克隆功能”
DOI：
10.1109/jssc.2022.3233373
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发表时间：
2023
影响因子：
5.4
通讯作者：
Yang, Kaiyuan
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
He, Yan;Li, Dai;Yu, Zhanghao;Yang, Kaiyuan
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用于内存自适应保护的可重新配置 ECC
DOI：
--
发表时间：
2013
期刊：
Midwest Symposium on Circuits and Systems
影响因子：
--
作者：
A. Basak;Somnath Paul;Jangwon Park;Jongsun Park;S. Bhunia
通讯作者：
S. Bhunia
振荡器崩溃拓扑中具有放大工艺失配效应的 BER 抑制 PUF
影响因子：
5.4
作者：
Jaehan Park;Byungjun Kim;J. Sim
通讯作者：
J. Sim
影响因子：
5.4
作者：
Liu, Kunyang;Chen, Xinpeng;Shinohara, Hirofumi
通讯作者：
Shinohara, Hirofumi
专有名称和记忆 (1)
DOI：
--
发表时间：
2010
期刊：
福岡県立大学人間社会学部紀要福岡県立大学人間社会学部 第18巻第2号
影响因子：
--
作者：
手代木陽;神谷英二
通讯作者：
神谷英二
13fJ/位%20探测弹性%20250K%20PUF%20array%20with%20soft%20darkbit%20masking%20for%201.94%%20位错误%20in%2022nm%20tri-gate%20CMOS
DOI：
--
发表时间：
2014
期刊：
European Solid-State Circuits Conference
影响因子：
--
作者：
Sudhir K. Satpathy;S. Mathew;Jiangtao Li;Patrick Koeberl;M. Anders;Himanshu Kaul;Gregory K. Chen;A. Agarwal;S. Hsu;R. Krishnamurthy
通讯作者：
R. Krishnamurthy