Fast Twist Angle Mapping of Bilayer Graphene Using Spectroscopic Ellipsometric Contrast Microscopy.
Fast Twist Angle Mapping of Bilayer Graphene Using Spectroscopic Ellipsometric Contrast Microscopy.
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DOI：
10.1021/acs.nanolett.3c00619
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发表时间：
2023-06-28
期刊：
影响因子：
10.8
通讯作者：
Alexander-Webber, Jack A.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Potocnik, Teja;Burton, Oliver;Reutzel, Marcel;Schmitt, David;Bange, Jan Philipp;Mathias, Stefan;Geisenhof, Fabian R.;Weitz, R. Thomas;Xin, Linyuan;Joyce, Hannah J.;Hofmann, Stephan;Alexander-Webber, Jack A.
扭曲的双层石墨烯提供了一个理想的固态模型来探索相关的材料特性和各种光电子应用的机会，但可靠、快速地表征扭曲角度仍然是一个挑战。在这里，我们介绍了光谱椭偏衬度显微镜(SECM)作为一种工具，以描绘扭转角无序的光学共振扭转双层石墨烯。我们根据测量和计算的入射光反射系数来优化椭偏角以增强图像对比度。与van Hove奇点相关的光学共振与拉曼光谱和角度分辨光电子发射光谱有很好的相关性，证实了SECM的准确性。结果表明，SECM是一种快速、无损的方法，用于表征扭曲的双层石墨烯的大面积、解锁过程、材料和器件筛选以及双层和多层材料的互相关测量潜力。
Twisted bilayer graphene provides an ideal solid-state model to explore correlated material properties and opportunities for a variety of optoelectronic applications, but reliable, fast characterization of the twist angle remains a challenge. Here we introduce spectroscopic ellipsometric contrast microscopy (SECM) as a tool for mapping twist angle disorder in optically resonant twisted bilayer graphene. We optimize the ellipsometric angles to enhance the image contrast based on measured and calculated reflection coefficients of incident light. The optical resonances associated with van Hove singularities correlate well to Raman and angle-resolved photoelectron emission spectroscopy, confirming the accuracy of SECM. The results highlight the advantages of SECM, which proves to be a fast, nondestructive method for characterization of twisted bilayer graphene over large areas, unlocking process, material, and device screening and cross-correlative measurement potential for bilayer and multilayer materials.
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影响因子：
6.7
作者：
Jeong, Gyouil;Choi, Boogeon;Kim, Zee Hwan
通讯作者：
Kim, Zee Hwan
DOI：
10.1021/acs.jpclett.5b01052
发表时间：
2015-07-16
期刊：
The journal of physical chemistry letters
影响因子：
--
作者：
Hofmann S;Braeuninger-Weimer P;Weatherup RS
通讯作者：
Weatherup RS
影响因子：
16.6
作者：
通讯作者：
--
高精度扭转控制双层和三层石墨烯
影响因子：
29.4
作者：
Chen, Xu-Dong;Xin, Wei;Tian, Jian-Guo
通讯作者：
Tian, Jian-Guo
影响因子：
4
作者：
Blake, P.;Hill, E. W.;Geim, A. K.
通讯作者：
Geim, A. K.