Failure Analysis of Open Faults by Using Detecting/Undetecting Information on Tests
Failure Analysis of Open Faults by Using Detecting/Undetecting Information on Tests
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利用测试中的检测/未检测信息进行开路故障的故障分析
DOI:
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发表时间:
2004
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
Y.Takamatsu
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Y.Sato;H.Takahashi;Y.Higami;Y.Takamatsu
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DOI:
--
发表时间:
2000
期刊:
Proceedings of the ... IEEE VLSI Test Symposium
影响因子:
--
作者:
S. Venkataraman;Scott Brady Drummonds
通讯作者:
Scott Brady Drummonds
DOI:
10.1109/43.811329
发表时间:
1999-12
期刊:
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.
影响因子:
--
作者:
A. Veneris;I. Hajj
通讯作者:
A. Veneris;I. Hajj
DOI:
10.1109/43.3952
发表时间:
1988
期刊:
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.
影响因子:
--
作者:
H. Cox;J. Rajski
通讯作者:
J. Rajski
DOI:
10.1109/54.902819
发表时间:
2001
期刊:
IEEE Des. Test Comput.
影响因子:
--
作者:
S. Venkataraman;Scott Brady Drummonds
通讯作者:
Scott Brady Drummonds
DOI:
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发表时间:
2002
期刊:
Proceedings. International Test Conference
影响因子:
--
作者:
S. Reddy;I. Pomeranz;Huaxing Tang;S. Kajihara;K. Kinoshita
通讯作者:
K. Kinoshita