A Predictive Process Design Kit for Three-Independent-Gate Field-Effect Transistors
A Predictive Process Design Kit for Three-Independent-Gate Field-Effect Transistors
复制标题
三独立栅极场效应晶体管的预测流程设计套件
DOI:
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发表时间:
2019
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
Ganesh Gore, Patsy Cadareanu
中科院分区:
文献类型:
--
作者:
Ganesh Gore, Patsy Cadareanu
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DOI:
10.1145/2717764.2717782
发表时间:
2015
期刊:
Proceedings of the 2015 Symposium on International Symposium on Physical Design
影响因子:
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作者:
Kirti Bhanushali;W. R. Davis
通讯作者:
W. R. Davis
DOI:
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发表时间:
2005
期刊:
Digest of Technical Papers. 2005 Symposium on VLSI Technology, 2005.
影响因子:
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作者:
L. Mathew;Yang Du;S. Kaipat;M. Sadd;M. Zavala;T. Stephens;R. Mora;R. Rai;S. Becker;C. Parker;D. Sing;R. Shimer;J. Sanez;A. Thean;L. Prabhu;M. Moosa;B. Nguyen;J. Mogah;G. Workman;A. Vandooren;Z. Shi;M. Chowdhury;W. Zhang;J. Fossum
通讯作者:
J. Fossum
影响因子:
2.4
作者:
Edouard Giacomin;P. Gaillardon
通讯作者:
P. Gaillardon
DOI:
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发表时间:
2014
期刊:
International Symposium on Circuits and Systems
影响因子:
--
作者:
O. Zografos;P. Gaillardon;G. Micheli
通讯作者:
G. Micheli
DOI:
10.3850/9783981537079_0206
发表时间:
2016
期刊:
2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
影响因子:
--
作者:
J. Trommer;A. Heinzig;T. Baldauf;T. Mikolajick;W. Weber;Michael Raitza;M. Völp
通讯作者:
M. Völp