Memristor device characterization by scanning microwave microscopy
Memristor device characterization by scanning microwave microscopy
复制标题
通过扫描微波显微镜表征忆阻器器件
DOI：
10.1109/marss.2017.8016537
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
K. Haddadi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
G. Sassine;N. Najjari;N. Defrance;O.C. Haenssler;D. Theron;F. Alibart;K. Haddadi
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DOI：
--
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--
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