Storage-Based Logic Built-in Self-Test With Multicycle Tests
Storage-Based Logic Built-in Self-Test With Multicycle Tests
复制标题
基于存储的逻辑内置自测试和多周期测试
DOI：
10.1109/tcad.2021.3128446
复制
发表时间：
2022
影响因子：
2.9
通讯作者：
Pomeranz, Irith
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Pomeranz, Irith
登录
查看更多内容
使用不可约多项式进行 LFSR 重新播种
DOI：
--
发表时间：
2007
期刊：
IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design
影响因子：
--
作者：
Snehal Udar;D. Kagaris
通讯作者：
D. Kagaris
用于汽车安全关键应用中老化影响下的性能故障预测的在线 BIST
DOI：
--
发表时间：
2011
期刊：
Latin American Test Workshop - LATW
影响因子：
--
作者：
R. S. Oliveira;J. Semião;I. Teixeira;Marcelino B. Santos;João Paulo Teixeira
通讯作者：
João Paulo Teixeira
安全性与测试质量：完全嵌入式测试方法是同时拥有这两者的关键
DOI：
10.1109/itc.2004.160
发表时间：
2004
期刊：
2004 International Conferce on Test
影响因子：
--
作者：
S. Pateras
通讯作者：
S. Pateras
有界透明扫描下测试压实
DOI：
--
发表时间：
2019
期刊：
IEEE VLSI Test Symposium
影响因子：
--
作者：
I. Pomeranz
通讯作者：
I. Pomeranz
通过扫描减少时序电路的测试应用时间
DOI：
--
发表时间：
1995
期刊：
IEEE Trans. Comput. Aided Des. Integr. Circuits Syst.
影响因子：
--
作者：
Soo Young Lee;K. Saluja
通讯作者：
K. Saluja