A nanoscale analysis method to reveal oxygen exchange between environment, oxide, and electrodes in ReRAM devices
A nanoscale analysis method to reveal oxygen exchange between environment, oxide, and electrodes in ReRAM devices
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一种纳米级分析方法，可揭示 ReRAM 器件中环境、氧化物和电极之间的氧交换
作者：
Cox H
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影响因子：
19
作者：
Tsuruoka, Tohru;Terabe, Kazuya;Aono, Masakazu
通讯作者：
Aono, Masakazu
影响因子：
3.4
作者：
A. Kenyon;Manveer Singh Munde;W. H. Ng;M. Buckwell;D. Joksas;A. Mehonic
通讯作者：
A. Kenyon;Manveer Singh Munde;W. H. Ng;M. Buckwell;D. Joksas;A. Mehonic
溅射薄膜中的表面粗糙度和面内纹理
DOI：
--
发表时间：
1998
期刊：
影响因子：
--
作者：
J. Whitacre;Z. Rek;J. Bilello;S. Yalisove
通讯作者：
S. Yalisove
飞行时间二次离子质谱 (ToF-SIMS) 简介及其在材料科学中的应用
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
S. Fearn
通讯作者：
S. Fearn
电极粗糙度对 HfO 2 中电铸的影响以及缺陷诱发的电场增强调节
DOI：
--
发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
--
作者：
S. K. Nandi;Xinjun Liu;D. Venkatachalam;R. Elliman
通讯作者：
R. Elliman