An approach to reduce over-testing of path delay faults in data paths using RT-level information
An approach to reduce over-testing of path delay faults in data paths using RT-level information
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一种使用 RT 级信息减少数据路径中路径延迟故障过度测试的方法
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Hideo Fujiwara
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Yuki Yoshikawa;Satoshi Ohtake;Hideo Fujiwara
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时序电路的可测试路径延迟故障覆盖
DOI：
10.1109/eurdac.1996.558208
发表时间：
1996
期刊：
Proceedings EURO-DAC '96. European Design Automation Conference with EURO-VHDL '96 and Exhibition
影响因子：
--
作者：
Angela Krstic;S. Chakradhar;K. Cheng
通讯作者：
K. Cheng
DOI：
10.1109/etw.2002.1029639
发表时间：
2002-11
期刊：
Journal of Electronic Testing
影响因子：
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作者：
Yun Shao;S. Reddy;I. Pomeranz;S. Kajihara
通讯作者：
Yun Shao;S. Reddy;I. Pomeranz;S. Kajihara
时序电路路径延迟故障的可测试性设计
DOI：
10.1145/157485.164973
发表时间：
1993
期刊：
30th ACM/IEEE Design Automation Conference
影响因子：
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作者：
T. Chakraborty;V. Agrawal;M. Bushnell
通讯作者：
M. Bushnell
数据路径的分层双模式可测试性设计
DOI：
10.1109/ats.2001.990251
发表时间：
2001
期刊：
Proceedings 10th Asian Test Symposium
影响因子：
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作者：
Md. Altaf;S. Ohtake;H. Fujiwara
通讯作者：
H. Fujiwara
基于数据路径单端口更改延迟测试的可测试性设计
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
IEEE the 14th Asian Test Symposium
影响因子：
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作者：
Yuki Yoshikawa;Satoshi Ohtake;Michiko Inoue;Hideo Fiujiwara
通讯作者：
Hideo Fiujiwara