Thickness dependence of interlayer fringe field coupling in sub micron NiFe/Cu multilayered pillars
Thickness dependence of interlayer fringe field coupling in sub micron NiFe/Cu multilayered pillars
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亚微米 NiFe/Cu 多层柱中层间边缘场耦合的厚度依赖性
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
M.Zhang et al.
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
F.Qin et al.;Y.Nozaki et al.;M.Zhang et al.
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作者：
F.Qin et al.;Y.Nozaki et al.;M.Zhang et al.;M.Zhang et al.;F.Qin et al.;Y.Nozaki et al.;F.qin et al.;M.Zhang et al.;F.Qin et al.;F.Qin et al.;M.Zhang et al.;M.Zhang et al.;F.Qin et al.;F.Qin et al.;F.Qin et al.;H.Oishi et al.;Y.Nozaki et al.;J.Kikuchi et al.;F.Qin et al.;F.Qin et al.;F.Qin et al.;H.Oishi et al.;Y.Nozaki et al.;J.Kikuchi et al.;F.Qin et al.;Y.Nozaki et al.;F.Qin et al.;Y.Nozaki et al.;K.Matsuyama et al.;Y.Nozaki et al.;H.Oishi et al.
通讯作者：
H.Oishi et al.