Technological Leaders and Followers In a World Economy
Technological Leaders and Followers In a World Economy
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世界经济中的技术领导者和追随者
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
春山 鉄源
中科院分区：
文献类型：
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作者：
上嶋智大;中平勝子;三上喜貴;T. Haruyama;春山 鉄源
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探索系统级测试的奥秘
DOI：
10.1109/ats49688.2020.9301557
发表时间：
2020
期刊：
2020 IEEE Asian Test Symposium
影响因子：
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作者：
Polian, Ilia;Anders, Jens;Becker, Steffen;Bernardi, Paolo;Chakrabarty, Krishnendu;ElHamawy, Nourhan;Sauer, Matthias;Singh, Adit;Reorda, Matteo Sonza;Wagner, Stefan
通讯作者：
Wagner, Stefan
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
International Test Conference
影响因子：
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作者：
N. Lylina;A. Atteya;Chih;H. Wunderlich
通讯作者：
H. Wunderlich
除了结构测试之外，对系统级测试的需求不断增长
DOI：
10.1109/vlsi-dat.2018.8373238
发表时间：
2018
期刊：
2018 International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT)
影响因子：
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作者：
Harry H. Chen
通讯作者：
Harry H. Chen
强大的可重构扫描网络
DOI：
10.23919/date54114.2022.9774770
发表时间：
2022
期刊：
2022 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)
影响因子：
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作者：
N. Lylina;Chih;H. Wunderlich
通讯作者：
H. Wunderlich
变化下嵌入式电池的电阻开路缺陷分类
DOI：
10.1109/lats53581.2021.9651857
发表时间：
2021
期刊：
2021 IEEE 22nd Latin American Test Symposium (LATS)
影响因子：
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作者：
Zahra Paria Najafi;H. Wunderlich
通讯作者：
H. Wunderlich