Growth-method-dependent thermoelectric properties of epitaxial Ge/Si(001) thin films

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外延 Ge/Si(001) 薄膜的生长方法相关热电特性

DOI:
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发表时间:
2017
期刊:
影响因子:
--
通讯作者:
and Yoshiaki Nakamura
and Yoshiaki Nakamura
中科院分区:
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文献类型:
--
作者:
Tatsuhiko Taniguchi;Hiroki Miyamoto;Kentaro Watanabe;and Yoshiaki Nakamura

文献摘要

参考文献

被引文献

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