A Synthesizable Datapath-Oriented Embedded FPGA Fabric for Silicon Debug Applications

A Synthesizable Datapath-Oriented Embedded FPGA Fabric for Silicon Debug Applications
复制标题

适用于芯片调试应用的可综合数据路径嵌入式 FPGA 架构

DOI:
10.1145/1331897.1331903
复制
发表时间:
2008
影响因子:
2.3
通讯作者:
Wilton S
Wilton S
中科院分区:
计算机科学3区
文献类型:
--
作者:
Wilton S

文献摘要

参考文献

被引文献

相似文献

我们提出了一种可综合的面向数据路径的FPGA核的体系结构,该结构可用于为SoC提供制造后灵活性。我们的架构针对基于总线的操作进行了优化,并采用定向布线架构,允许使用标准ASIC设计工具和流程进行综合。这种体系结构的主要动机是提供一种支持片上调试的有效机制。该结构还可用于实现其他面向数据路径的电路,例如信号处理和计算密集型应用中所需的那些电路。我们使用一组基准电路评估我们的体系结构,并在面积、速度和功率方面与以前的结构进行比较。
We present an architecture for a synthesizable datapath-oriented FPGA core that can be used to provide post-fabrication flexibility to an SoC. Our architecture is optimized for bus-based operations and employs a directional routing architecture, which allows it to be synthesized using standard ASIC design tools and flows. The primary motivation for this architecture is to provide an efficient mechanism to support on-chip debugging. The fabric can also be used to implement other datapath-oriented circuits such as those needed in signal processing and computation-intensive applications. We evaluate our architecture using a set of benchmark circuits and compare it to previous fabrics in terms of area, speed, and power.
使用可编程逻辑内核进行硅后调试
DOI: --
发表时间: 2005
期刊: Proceedings. 2005 IEEE International Conference on Field-Programmable Technology, 2005.
影响因子: --
作者:
Bradley R. Quinton;S. Wilton
通讯作者: S. Wilton
为 SOC 自动创建特定领域的可重配置 CPLD
DOI: --
发表时间: 2005
期刊: International Conference on Field-Programmable Logic and Applications
影响因子: --
作者:
M. Holland;S. Hauck
通讯作者: S. Hauck
DOI: 10.1155/1996/95942
发表时间: 1996
期刊: VLSI Design
影响因子: --
作者:
D. Cherepacha;D. Lewis
通讯作者: D. Cherepacha;D. Lewis
Phoenix:使用可编程硬件检测永久性处理器设计错误并从中恢复
DOI: 10.1109/micro.2006.41
发表时间: 2006
期刊: 2006 39th Annual IEEE/ACM International Symposium on Microarchitecture (MICRO'06)
影响因子: --
作者:
S. Sarangi;A. Tiwari;J. Torrellas
通讯作者: J. Torrellas
面向可综合数据路径的嵌入式 FPGA 结构
DOI: --
发表时间: 2007
期刊: Symposium on Field Programmable Gate Arrays
影响因子: --
作者:
S. Wilton;C. H. Ho;P. Leong;W. Luk;Bradley R. Quinton
通讯作者: Bradley R. Quinton