Interface stability of magnetic tunnel barriers and electrodes
Interface stability of magnetic tunnel barriers and electrodes
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磁隧道势垒和电极的界面稳定性
DOI：
10.1002/pssa.200675682
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
Lamperti A
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Lamperti A
在原位退火过程中的掠入射X射线散射已被用于研究MgO基电极和磁性隧道结（MTJ）中的势垒的界面稳定性。在基于Co 60 Fe 20 B20/MgO的MTJ中，在约200 °C下的低温退火可导致隧穿磁阻（TMR）的下降。镜面反射率测量显示在高散射矢量的条纹结构的变化，在温度下，TMR下降。此外，观察到漫散射相对于镜面散射的变化。对三种不同工艺制备的[Co 60 Fe 60 B20/MgO]× 14多层膜进行退火处理，结果表明，在200 °C以下，镜面布拉格峰没有变化，晶化过程中Kiessig条纹结构没有损失，漫散射也没有变化。我们建议，扩散锰从IrMn钉扎层，存在于MTJ，但不是在多层膜，可能是负责TMR行为的差异。（© 2007 WILEY‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA，魏因海姆）
Grazing incidence X‐ray scattering duringin‐situannealing has been used to study the interface stability in MgO‐based electrodes and barriers in magnetic tunnel junctions (MTJs). In MTJs based on Co60Fe20B20/MgO, low temperature annealing at about 200 °C can result in a drop in the tunnelling magnetoresistance (TMR). Specular reflectivity measurements show a change in fringe structure at high scattering vector, at the temperature at which the TMR drops. Also, a change in diffuse scatter relative to the specular scatter is observed. Annealing of [Co60Fe60B20/MgO]×14multilayers prepared by three different techniques shows no change in the specular Bragg peaks with no loss of Kiessig fringe structure on crystallization and no change in the diffuse scatter up to 200 °C. We suggest that diffusion of Mn from the IrMn pinning layer, present in the MTJs but not in the multilayers, may be responsible for the differences in TMR behaviour. (© 2007 WILEY‐VCH Verlag GmbH & Co. KGaA, Weinheim)
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DOI：
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发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
--
作者：
A. Käufler;Yuansu Luo;K. Samwer;G. Gieres;M. Vieth;J. Wecker
通讯作者：
J. Wecker
Co32Fe48B20 电极层在退火磁隧道结中的结晶行为
DOI：
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发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
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作者：
J. Bae;W. C. Lim;Hyun Jeong Kim;Tae Wan Kim;T. Lee
通讯作者：
T. Lee
退火过程中等离子体氧化 MgO 磁性隧道结的原位传输测量
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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作者：
G. Anderson;A. Hindmarch;C. Marrows;B. Hickey
通讯作者：
B. Hickey
CoFeB 磁性隧道结中的界面锐化
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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作者：
A. Pym;A. Lamperti;B. Tanner;T. Dimopoulos;M. Rührig;J. Wecker
通讯作者：
J. Wecker
DOI：
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发表时间：
1999
期刊：
影响因子：
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作者：
E. Tsymbal;D. Pettifor
通讯作者：
D. Pettifor